全自动激光粒度仪 JCS5200-H（量程0.1-800μm）

简要描述：JCS5200-H全自动激光粒度仪采用Mie氏散射原理和会聚光傅立叶变换光路,傅里叶变换镜头+滤波镜头双镜头技术的采用保证了仪器的测量精度，高密度阵列探头及全量

基础信息

产品型号

JCS5200-H

厂家性质

生产厂家

发布时间

2024-07-29

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产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

详细介绍

JCS5200-H全自动激光粒度仪采用Mie氏散射原理和会聚光傅立叶变换光路,傅里叶变换镜头+滤波镜头双镜头技术的采用保证了仪器的测量精度，高密度阵列探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。湿法循环分散系统采取了管道无残留设计，保证颗粒测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象,不但保证了测试不同样品的准确性，还保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠。

产品特点

激光智能管理系统	进口Opnext大功率光纤输出半导体激光器
超速采集主板	双镜头技术（傅里叶镜头、滤波镜头）
样品窗镀膜工艺	70通道均匀交叉及面积补偿多方位阵列
误操作保护功能	分散剂自动加注系统

适用范围

JCS5200-H激光粒度仪被广泛应用于各种金属、非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌、河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳液等。

产品参数

测量原理	全量程激光衍射
粒径范围	0.1μm-1000μm
探测系统	70通道均匀交叉及面积补偿多方位阵列
激光器	进口大功率光纤输出半导体激光器，波长635nm，功率最大20毫瓦
激光管理	LIMS激光智能管理系统
光学模型	全量程米氏散射理论，包含高浓度多重散射动态补偿技术
滤波方式	双镜头滤波技术,傅里叶变换镜头+滤波镜头
采集主板	高速采集主板(10000次/秒)
浓度范围	最低遮光度3%，最高遮光度90%（光学浓度）
样品池	特殊镀膜工艺处理,光信号透过率＞99.7%
保护功能	超声防干烧、液位传感器、溢流管、误操作无响应
超声功率	50W、可选配功率可调、超声防干烧
对中系统	机械中心+光学中心双定位全自动对中系统
测量时间	典型值＜10秒
测量精度	准确性、重复性Dv50均优于±0.5%（NIST可溯源标准样品）
测量方式	SOP可编辑全自动测量
环境温度	0°C-45°C
环境湿度	10%-85%相对湿度（无结凝）
电源要求	220V(±20V),50Hz–60Hz
执行标准	GB/T19077-2016/ISO 13320:2009
外观尺寸	800mm×280mm×335mm
仪器重量	38kg